本章以 PN 接面物理為基礎,深入分析各類特殊二極體。


一、整流二極體:物理層面

整流的核心需求

  • 順向:低 V_F、高 I_F、低 R_S
  • 反向:高 V_BR、低漏電、快速恢復

V_F 與摻雜濃度的取捨

  • 重摻雜:V_F 低、漏電大、V_BR 低
  • 輕摻雜:V_F 高、漏電小、V_BR 高

實際整流二極體常用「PIN」結構(P+ / Intrinsic / N+): - P+ N+ 重摻雜降低 V_F - 中間 I 層提供高擊穿電壓

V_BR 與漂移區寬度

漂移區寬度決定耐壓:

$$V_{BR} \approx E_{crit} \times W_{drift}$$

矽 E_crit ≈ 3 × 10⁵ V/cm。

→ 1000V 二極體需要漂移區 ≈ 33 µm。


二、快速恢復二極體(FRD)

反向恢復過程

順向時接面附近有大量少數載子。 切換到反向時,這些載子需要時間「排空」:

電流
  │
  │ ─順向─┐
  │       │
  │       │
  │       │  (V_R 加上後)
  │       │
  │       └────╲      ◄ 反向過衝(重要!)
  │             ╲
  │              ╲___ ────► 時間
  │
  │←─ t_rr ──→

t_rr 由: - 少數載子壽命 τ - 反向電壓 V_R - 切換時的 di/dt

決定。

縮短 t_rr 的技術

  1. 生命時間殺手:摻雜金(Au)或鉑(Pt)製造復合中心 → 但 V_F 會增加
  2. 電子輻照:可控的辦法
  3. 表面 N+ buffer 層:吸收電場
  4. 改用蕭基二極體:徹底消除 t_rr

t_rr 等級

類型 t_rr
一般整流 1–5 µs
快速整流(FR) 200–500 ns
超快速(UF) 50–100 ns
蕭基 < 10 ns(接近 0)
GaN < 1 ns

三、蕭基二極體(Schottky)

結構:金屬-半導體接面

   金屬(Anode)
─────────────
    ─ 蕭基界面 ─
─────────────
   N 型半導體
─────────────
   N+ Substrate
─────────────
   金屬(Cathode)

蕭基障壁

$$\Phi_B = \Phi_M - \chi_S$$

  • Φ_M:金屬功函數
  • χ_S:半導體電子親和力

V_F 計算

$$I = A^* T^2 e^{-\Phi_B / kT} \cdot (e^{V/V_T} - 1)$$

A*:理查森常數,矽 ≈ 110 A/(cm²·K²)

矽蕭基典型 V_F:0.2–0.4V(依金屬選擇)

為什麼蕭基沒有 t_rr?

金屬中沒有「少數載子」概念,純粹是多數載子(電子)流動,因此切換瞬間結束。

蕭基的缺點

  1. 反向漏電大:障壁低,T 上升漏電倍增
  2. V_BR 較低:一般 < 100V,現代有 SiC 蕭基可達 1700V
  3. 熱失控傾向:高溫下漏電增大 → 發熱 → 漏電更大

SiC 蕭基

碳化矽蕭基大幅突破限制: - V_BR:650V–1700V - 高溫工作(200°C+) - 用於電動車、太陽能


四、Zener 二極體深入

工作機制

  • < 5V:齊納擊穿(量子穿隧)
  • 5–6V:兩種共存(過渡區)
  • > 6V:雪崩擊穿

溫度係數

V_Z 溫度係數
< 4V 強負(-mV/°C)
~ 5V 接近 0
~ 6V 接近 0(最佳)
> 7V 正(+mV/°C)

經典:1N4734(5.6V)、1N4735(6.2V)有最低溫度係數,常作精密參考。

動態電阻 r_z

實際 Zener 不是理想電壓源,有「動態電阻」:

$$r_z = \frac{\Delta V_Z}{\Delta I_Z}$$

典型 5–50 Ω(小電流時更大)。 影響:負載電流變化時輸出電壓會變化 ΔV = ΔI × r_z

Zener 簡易穩壓設計

要點: 1. 最小工作電流 ≥ I_Z(min)(datasheet 規定) 2. 最大功耗 ≤ 0.5 P_Z(max) 3. 取最壞情況:負載最輕時 Zener 電流最大

溫度補償

V_F 二極體(負溫度係數 -2 mV/°C)+ 6.2V Zener(+2 mV/°C)串聯 → 溫度係數抵消。

精密參考 IC 用此技術,達到 ppm/°C 級穩定度。


五、PIN 二極體

結構:P+ / I / N+

中間是「本質(intrinsic)」層,極輕摻雜或無摻雜。

特性

  • 順向時:I 區充滿載子,等效電阻變化大
  • 用作「可變電阻」(射頻控制)
  • 大面積 / 低電容
  • 高耐壓

應用

A. RF 開關 / 衰減器

順向偏壓控制 I 區的「儲存電荷」量,等效電阻可從 Ω 到 kΩ 變化。 用於:射頻訊號路徑切換、可變衰減器、限幅器。

B. 高功率整流

I 層提供大耐壓,常見於高壓直流(HVDC)、雷射驅動。

C. 光電二極體

PIN 結構的本質區作為「光吸收區」,可達 ns 級反應速度。


六、變容二極體(Varactor / Varicap)

利用 C_j 隨 V_R 變化

$$C_j = \frac{C_{j0}}{(1 - V/V_{bi})^m}$$

  • m = 1/2:突變接面(abrupt)
  • m = 1/3:漸變接面(linearly graded)
  • 超突變(hyperabrupt):m > 1,更靈敏

應用

A. VCO(Voltage Controlled Oscillator)

LC 振盪器中用 Varactor 取代固定電容,控制電壓 → 改變頻率。

B. PLL(Phase Locked Loop)頻率合成

PLL 的核心 VCO。

C. 自動頻率調諧

汽車收音機、舊式類比 TV。

D. 參量放大器

低雜訊射頻放大(衛星通訊)。

經典型號

  • BB910, MV209:FM 調諧
  • SMV1232:高頻 VCO

七、TVS(Transient Voltage Suppressor)

結構

實際是「快速 Zener」+ 大面積 + 低電感封裝。

功能

吸收瞬態能量(雷擊、靜電、開關 spike):

線路 ───┬──── 設備
        │
       [TVS]
        │
       GND

平時:截止(極小漏電) 雷擊:擊穿並箝位電壓在 V_C,吸收能量

規格

  • V_RWM(反向工作電壓):平時不導通的最高電壓
  • V_BR(擊穿電壓):開始導通
  • V_C(箝位電壓):吸收最大瞬態時的最高電壓
  • I_PP(峰值脈衝電流)
  • 電容:影響高速訊號(USB 3.0、HDMI 要選低電容)

單向 vs 雙向

  • 單向:用於 DC 電源線
  • 雙向:用於 AC 訊號線(D+/D-、RS-485)

應用範例

A. USB 介面保護

每對 D+/D- 加一顆超低電容 TVS(< 1 pF for USB 3.0)。

B. 電源輸入

12V 電源輸入加一顆 V_RWM = 14V 的 TVS,防止汽車環境的 -100V/+200V 瞬變。

C. 乙太網路

每對信號線都有 TVS 保護。


八、特殊二極體一覽

1. 隧道二極體(Tunnel Diode)

利用量子穿隧的「負微分電阻」區域。 - 高頻特性極佳(GHz) - 但小電流,難用於大功率 - 已被其他元件取代

2. IMPATT 二極體

利用雪崩 + 渡越時間的負電阻,產生微波振盪。 - 雷達、毫米波應用 - 高雜訊

3. Gunn 二極體

GaAs 中的負電阻效應。 - 微波振盪源(汽車雷達早期、自動門感測)

4. 快速恢復磊晶二極體(FRED)

磊晶製程,高速 + 低 V_F。

5. 雪崩二極體(Avalanche Diode)

設計成可重複進入雪崩區,用作微波雜訊源、TVS。


九、二極體選用實務

整流:選誰?

應用 推薦類型
60 Hz 整流 一般 1N400x、橋式整流模組
100–500 kHz 開關電源 蕭基(< 100V)或快恢復(> 100V)
1 MHz+ 蕭基或 SiC 蕭基
高壓(kV) 高壓整流模組(內含多串聯)
大電流(> 50A) TO-247 / TO-264 封裝

保護:選誰?

場景 推薦
ESD(< 30 kV 短脈衝) 低電容 TVS
雷擊(kV 級長脈衝) 大功率 TVS + GDT 配合
反電動勢(電感負載) 一般二極體(1N4148/1N4007)
高速數位 ESD 內含 PIN diode 陣列(如 USBLC6)

訊號:選誰?

場景 推薦
小信號開關 1N4148(低 C_j、快速)
微弱訊號偵測 鍺二極體(V_F 0.2V)或 zero-bias 蕭基
射頻偵測 蕭基
雙向訊號 雙向 TVS

十、本章總結

✅ 您應該理解:

  • [x] 整流二極體的內部結構與耐壓設計
  • [x] 反向恢復時間的物理本質與縮短方法
  • [x] 蕭基二極體的金屬-半導體機制
  • [x] Zener 的兩種擊穿機制與溫度補償
  • [x] PIN 二極體的可變電阻特性
  • [x] Varactor 的電壓控制電容
  • [x] TVS 的瞬態保護機制
  • [x] 各類二極體的選用情境

自我檢測

  1. 為什麼一般 PN 二極體不能用在 1 MHz 開關電源?
  2. 蕭基二極體的反向漏電比一般 PN 大還小?
  3. Zener 5.6V 與 3.3V 在溫度係數上有何不同?
  4. PIN 二極體中間的 I 層作用?
  5. 選 USB 3.0 的 TVS 時,最重要的規格是?

解答

  1. 反向恢復時間 µs 級,每個切換週期 1 µs 中有大半時間在反向恢復,效率劇降且發熱嚴重
  2. 大很多。蕭基障壁低,溫度敏感,漏電可達 mA 級
  3. 5.6V 接近零(過渡區);3.3V 是純齊納,溫度係數負(約 -2 mV/°C)
  4. 提供大空乏區(高耐壓)、儲存載子(射頻可變電阻)、光吸收區(PIN 光電二極體)
  5. 接面電容(< 0.5 pF),太大會嚴重影響高速訊號完整性

下一章

04-BJT原理深入.md — BJT 內部物理與精確模型。