本章以 PN 接面物理為基礎,深入分析各類特殊二極體。
一、整流二極體:物理層面
整流的核心需求
- 順向:低 V_F、高 I_F、低 R_S
- 反向:高 V_BR、低漏電、快速恢復
V_F 與摻雜濃度的取捨
- 重摻雜:V_F 低、漏電大、V_BR 低
- 輕摻雜:V_F 高、漏電小、V_BR 高
實際整流二極體常用「PIN」結構(P+ / Intrinsic / N+): - P+ N+ 重摻雜降低 V_F - 中間 I 層提供高擊穿電壓
V_BR 與漂移區寬度
漂移區寬度決定耐壓:
$$V_{BR} \approx E_{crit} \times W_{drift}$$
矽 E_crit ≈ 3 × 10⁵ V/cm。
→ 1000V 二極體需要漂移區 ≈ 33 µm。
二、快速恢復二極體(FRD)
反向恢復過程
順向時接面附近有大量少數載子。 切換到反向時,這些載子需要時間「排空」:
電流
│
│ ─順向─┐
│ │
│ │
│ │ (V_R 加上後)
│ │
│ └────╲ ◄ 反向過衝(重要!)
│ ╲
│ ╲___ ────► 時間
│
│←─ t_rr ──→
t_rr 由: - 少數載子壽命 τ - 反向電壓 V_R - 切換時的 di/dt
決定。
縮短 t_rr 的技術
- 生命時間殺手:摻雜金(Au)或鉑(Pt)製造復合中心 → 但 V_F 會增加
- 電子輻照:可控的辦法
- 表面 N+ buffer 層:吸收電場
- 改用蕭基二極體:徹底消除 t_rr
t_rr 等級
| 類型 | t_rr |
|---|---|
| 一般整流 | 1–5 µs |
| 快速整流(FR) | 200–500 ns |
| 超快速(UF) | 50–100 ns |
| 蕭基 | < 10 ns(接近 0) |
| GaN | < 1 ns |
三、蕭基二極體(Schottky)
結構:金屬-半導體接面
金屬(Anode)
─────────────
─ 蕭基界面 ─
─────────────
N 型半導體
─────────────
N+ Substrate
─────────────
金屬(Cathode)
蕭基障壁
$$\Phi_B = \Phi_M - \chi_S$$
- Φ_M:金屬功函數
- χ_S:半導體電子親和力
V_F 計算
$$I = A^* T^2 e^{-\Phi_B / kT} \cdot (e^{V/V_T} - 1)$$
A*:理查森常數,矽 ≈ 110 A/(cm²·K²)
矽蕭基典型 V_F:0.2–0.4V(依金屬選擇)
為什麼蕭基沒有 t_rr?
金屬中沒有「少數載子」概念,純粹是多數載子(電子)流動,因此切換瞬間結束。
蕭基的缺點
- 反向漏電大:障壁低,T 上升漏電倍增
- V_BR 較低:一般 < 100V,現代有 SiC 蕭基可達 1700V
- 熱失控傾向:高溫下漏電增大 → 發熱 → 漏電更大
SiC 蕭基
碳化矽蕭基大幅突破限制: - V_BR:650V–1700V - 高溫工作(200°C+) - 用於電動車、太陽能
四、Zener 二極體深入
工作機制
- < 5V:齊納擊穿(量子穿隧)
- 5–6V:兩種共存(過渡區)
- > 6V:雪崩擊穿
溫度係數
| V_Z | 溫度係數 |
|---|---|
| < 4V | 強負(-mV/°C) |
| ~ 5V | 接近 0 |
| ~ 6V | 接近 0(最佳) |
| > 7V | 正(+mV/°C) |
經典:1N4734(5.6V)、1N4735(6.2V)有最低溫度係數,常作精密參考。
動態電阻 r_z
實際 Zener 不是理想電壓源,有「動態電阻」:
$$r_z = \frac{\Delta V_Z}{\Delta I_Z}$$
典型 5–50 Ω(小電流時更大)。 影響:負載電流變化時輸出電壓會變化 ΔV = ΔI × r_z
Zener 簡易穩壓設計
要點: 1. 最小工作電流 ≥ I_Z(min)(datasheet 規定) 2. 最大功耗 ≤ 0.5 P_Z(max) 3. 取最壞情況:負載最輕時 Zener 電流最大
溫度補償
V_F 二極體(負溫度係數 -2 mV/°C)+ 6.2V Zener(+2 mV/°C)串聯 → 溫度係數抵消。
精密參考 IC 用此技術,達到 ppm/°C 級穩定度。
五、PIN 二極體
結構:P+ / I / N+
中間是「本質(intrinsic)」層,極輕摻雜或無摻雜。
特性
- 順向時:I 區充滿載子,等效電阻變化大
- 用作「可變電阻」(射頻控制)
- 大面積 / 低電容
- 高耐壓
應用
A. RF 開關 / 衰減器
順向偏壓控制 I 區的「儲存電荷」量,等效電阻可從 Ω 到 kΩ 變化。 用於:射頻訊號路徑切換、可變衰減器、限幅器。
B. 高功率整流
I 層提供大耐壓,常見於高壓直流(HVDC)、雷射驅動。
C. 光電二極體
PIN 結構的本質區作為「光吸收區」,可達 ns 級反應速度。
六、變容二極體(Varactor / Varicap)
利用 C_j 隨 V_R 變化
$$C_j = \frac{C_{j0}}{(1 - V/V_{bi})^m}$$
- m = 1/2:突變接面(abrupt)
- m = 1/3:漸變接面(linearly graded)
- 超突變(hyperabrupt):m > 1,更靈敏
應用
A. VCO(Voltage Controlled Oscillator)
LC 振盪器中用 Varactor 取代固定電容,控制電壓 → 改變頻率。
B. PLL(Phase Locked Loop)頻率合成
PLL 的核心 VCO。
C. 自動頻率調諧
汽車收音機、舊式類比 TV。
D. 參量放大器
低雜訊射頻放大(衛星通訊)。
經典型號
- BB910, MV209:FM 調諧
- SMV1232:高頻 VCO
七、TVS(Transient Voltage Suppressor)
結構
實際是「快速 Zener」+ 大面積 + 低電感封裝。
功能
吸收瞬態能量(雷擊、靜電、開關 spike):
線路 ───┬──── 設備
│
[TVS]
│
GND
平時:截止(極小漏電) 雷擊:擊穿並箝位電壓在 V_C,吸收能量
規格
- V_RWM(反向工作電壓):平時不導通的最高電壓
- V_BR(擊穿電壓):開始導通
- V_C(箝位電壓):吸收最大瞬態時的最高電壓
- I_PP(峰值脈衝電流)
- 電容:影響高速訊號(USB 3.0、HDMI 要選低電容)
單向 vs 雙向
- 單向:用於 DC 電源線
- 雙向:用於 AC 訊號線(D+/D-、RS-485)
應用範例
A. USB 介面保護
每對 D+/D- 加一顆超低電容 TVS(< 1 pF for USB 3.0)。
B. 電源輸入
12V 電源輸入加一顆 V_RWM = 14V 的 TVS,防止汽車環境的 -100V/+200V 瞬變。
C. 乙太網路
每對信號線都有 TVS 保護。
八、特殊二極體一覽
1. 隧道二極體(Tunnel Diode)
利用量子穿隧的「負微分電阻」區域。 - 高頻特性極佳(GHz) - 但小電流,難用於大功率 - 已被其他元件取代
2. IMPATT 二極體
利用雪崩 + 渡越時間的負電阻,產生微波振盪。 - 雷達、毫米波應用 - 高雜訊
3. Gunn 二極體
GaAs 中的負電阻效應。 - 微波振盪源(汽車雷達早期、自動門感測)
4. 快速恢復磊晶二極體(FRED)
磊晶製程,高速 + 低 V_F。
5. 雪崩二極體(Avalanche Diode)
設計成可重複進入雪崩區,用作微波雜訊源、TVS。
九、二極體選用實務
整流:選誰?
| 應用 | 推薦類型 |
|---|---|
| 60 Hz 整流 | 一般 1N400x、橋式整流模組 |
| 100–500 kHz 開關電源 | 蕭基(< 100V)或快恢復(> 100V) |
| 1 MHz+ | 蕭基或 SiC 蕭基 |
| 高壓(kV) | 高壓整流模組(內含多串聯) |
| 大電流(> 50A) | TO-247 / TO-264 封裝 |
保護:選誰?
| 場景 | 推薦 |
|---|---|
| ESD(< 30 kV 短脈衝) | 低電容 TVS |
| 雷擊(kV 級長脈衝) | 大功率 TVS + GDT 配合 |
| 反電動勢(電感負載) | 一般二極體(1N4148/1N4007) |
| 高速數位 ESD | 內含 PIN diode 陣列(如 USBLC6) |
訊號:選誰?
| 場景 | 推薦 |
|---|---|
| 小信號開關 | 1N4148(低 C_j、快速) |
| 微弱訊號偵測 | 鍺二極體(V_F 0.2V)或 zero-bias 蕭基 |
| 射頻偵測 | 蕭基 |
| 雙向訊號 | 雙向 TVS |
十、本章總結
✅ 您應該理解:
- [x] 整流二極體的內部結構與耐壓設計
- [x] 反向恢復時間的物理本質與縮短方法
- [x] 蕭基二極體的金屬-半導體機制
- [x] Zener 的兩種擊穿機制與溫度補償
- [x] PIN 二極體的可變電阻特性
- [x] Varactor 的電壓控制電容
- [x] TVS 的瞬態保護機制
- [x] 各類二極體的選用情境
自我檢測
- 為什麼一般 PN 二極體不能用在 1 MHz 開關電源?
- 蕭基二極體的反向漏電比一般 PN 大還小?
- Zener 5.6V 與 3.3V 在溫度係數上有何不同?
- PIN 二極體中間的 I 層作用?
- 選 USB 3.0 的 TVS 時,最重要的規格是?
解答
- 反向恢復時間 µs 級,每個切換週期 1 µs 中有大半時間在反向恢復,效率劇降且發熱嚴重
- 大很多。蕭基障壁低,溫度敏感,漏電可達 mA 級
- 5.6V 接近零(過渡區);3.3V 是純齊納,溫度係數負(約 -2 mV/°C)
- 提供大空乏區(高耐壓)、儲存載子(射頻可變電阻)、光吸收區(PIN 光電二極體)
- 接面電容(< 0.5 pF),太大會嚴重影響高速訊號完整性
下一章
04-BJT原理深入.md — BJT 內部物理與精確模型。